hotdisk常數(shù)分析儀測試原理
發(fā)表時間：2023-08-22
Hotdisk常數(shù)分析儀，使用一種薄層圓盤形雙螺旋結構探針同時作為平面熱源和溫度傳感器，放置于表面光潔平整的相同被測樣品中間，探頭通電后溫度上升，探頭熱阻系數(shù)隨溫度變化而變化，測量溫升及響應時間，得到熱導率。
探頭是雙螺旋結構，由 10（＋/-2）m 厚的金屬薄片刻蝕而成，邊緣為 7-100m 的絕緣薄膜。由于鎳、鉬具有相對較高熱系數(shù)和電阻，以及良好穩(wěn)定性而被用作探頭的金屬薄片。根據(jù)不同的使用的溫度，聚酰亞胺、云母、氮化鋁和氧化鋁都可作為絕緣薄膜。雙螺旋結構的圓形探頭的寬度為 0.2（＋/-0.03），其半徑為 15mm 或更??；寬度為 0.35（＋/-0.05）的探頭有更大的半徑。
雙螺旋結構的探頭作為加熱和傳感元件。針對不同的樣品尺寸探頭半徑從 4－60mm不平衡電橋用來記錄探頭電阻增加值的電路圖。Rs 代表串聯(lián)電阻，RL 是探頭引線的總電阻，R0 是探頭瞬態(tài)加熱前的電阻，△R 是探頭在瞬態(tài)加熱時的電阻增加值，△U 是由于探頭電阻增加而產(chǎn)生的不平衡電壓。
