Hot Disk 模塊 |
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|---|---|
| 分類 | Hot Disk 熱常數(shù)分析儀/導(dǎo)熱系數(shù)儀/導(dǎo)熱儀/熱導(dǎo)儀 |
| 型號(hào) | Hot Disk 模塊 |
| 品牌 | Hot Disk |
| 產(chǎn)地 | 瑞典，進(jìn)口 |
Hot Disk熱常數(shù)分析儀/導(dǎo)熱系數(shù)儀/導(dǎo)熱儀/熱導(dǎo)儀系統(tǒng)不僅可以根據(jù)探頭的選擇，還可以根據(jù)可用的測(cè)量模塊來(lái)定制測(cè)試需求。這些模塊允許測(cè)試不同幾何形狀、導(dǎo)熱范圍和材料類型的樣品。各向同性標(biāo)準(zhǔn)模塊是所有配置的核心，而可選模塊為Hot Disk配置添加更多新功能。
各項(xiàng)同性標(biāo)準(zhǔn)模塊
塊體導(dǎo)熱系數(shù)的全面測(cè)試
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1
各項(xiàng)同性標(biāo)準(zhǔn)模塊
強(qiáng)大的各向同性測(cè)量模塊允許Hot Disk用戶測(cè)量任何各向同性塊體樣品的導(dǎo)熱系數(shù)、熱擴(kuò)散率和比熱容，無(wú)論是固體、液體、粉末、膏體還是泡沫。用該模塊測(cè)得的導(dǎo)熱系數(shù)是樣品被檢測(cè)的體積的幾何平均值。使用各向同性模塊很簡(jiǎn)單，只需要少量的輸入?yún)?shù)。即使是一個(gè)未知材料性能的樣品也可以很快地進(jìn)行測(cè)試和分析。
各向同性測(cè)量模塊具有單面和雙面試樣測(cè)試功能。
導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：
系統(tǒng) 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.03-500 W/mK
TPS 1500 0.03-50 W/mK
TPS 500 S, TPS 500 0.03-100 W/mK
Hot Disk M1 0.03-40 W/mK
適用系統(tǒng)型號(hào)：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1
平板模塊
板材或平板樣品的二維方向?qū)嵯禂?shù)測(cè)試
TPS 2200 TPS 2500 S TPS 3500 TPS 500 (S)
平板模塊
利用平板測(cè)量模塊，可以對(duì)高導(dǎo)熱性材料的晶圓片、片或板進(jìn)行測(cè)試。在適合用這種方法檢測(cè)的樣品中，我們測(cè)量過(guò)如金屬、半導(dǎo)體和石墨。該方法在已知樣品厚度的前提下，只需要將測(cè)量時(shí)間和輸出功率作為數(shù)據(jù)輸入即可，使用起來(lái)非常簡(jiǎn)單直觀。
平板測(cè)量模塊需要兩個(gè)相同的樣品片，以準(zhǔn)確的測(cè)量。
導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：
系統(tǒng) 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S 1*-1500 W/mK
TPS 2200 1*-500W/mK
TPS 500 S 1*-200 W/mK
*為了達(dá)到最高測(cè)試精度建議測(cè)試5W/mK以上的樣品，但低至1W/mK的樣品都可得到很好的重復(fù)性。
適用系統(tǒng)型號(hào)：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 500 S
各向異性模塊
方向依賴性的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500
各向異性模塊
各向異性測(cè)量模塊提供了獨(dú)特的能力，以測(cè)量樣品在軸向和徑向分別的導(dǎo)熱系數(shù)。能夠測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)的各向異性對(duì)許多應(yīng)用來(lái)說(shuō)是非常重要的。在任何涉及加熱或冷卻的情況下，例如電池、電子產(chǎn)品和建筑材料領(lǐng)域中，能夠確定這一特性是至關(guān)重要的。這種類型的測(cè)量通過(guò)預(yù)輸入檢測(cè)樣品的比熱容即可實(shí)現(xiàn)。比熱容，如果不能在科學(xué)期刊中找到，或從以前類似材料的測(cè)試中得知，可以很容易和準(zhǔn)確地使用專用的TPS測(cè)量模塊進(jìn)行測(cè)試。
各向異性測(cè)量模塊具有單面和雙面樣品測(cè)試的特點(diǎn)，但建議使用雙面測(cè)試以達(dá)到最大精度。
各向同性測(cè)量模塊具有單面和雙面試樣測(cè)試功能。
系統(tǒng) 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S 0.005-1500 W/mK
TPS 2200 0.005-500W/mK
TPS 1500 0.005-50 W/mK
適用系統(tǒng)型號(hào)：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500
測(cè)試透過(guò)薄膜的導(dǎo)熱系數(shù)
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200
薄膜模塊
薄膜模塊用于測(cè)量通過(guò)導(dǎo)電體或板式襯底上的絕熱薄膜或涂層的導(dǎo)熱系數(shù)。通過(guò)測(cè)量薄膜上的熱阻并輸入薄膜厚度即可得到導(dǎo)熱系數(shù)。薄膜的厚度可測(cè)20到500μm。
薄膜測(cè)量模塊需要兩塊相同的樣品薄膜進(jìn)行測(cè)試。
導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：
系統(tǒng) 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.01-5 W/mK
適用系統(tǒng)型號(hào)：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200
復(fù)雜樣品的直接Cp測(cè)試
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S)
比熱模塊
該專用模塊擅長(zhǎng)于確定固體或液體樣品的比熱容。與所有其他Hot Disk測(cè)試一樣，這個(gè)過(guò)程是溫和的，沒(méi)有破壞性的。被測(cè)試的樣品被放置在一個(gè)絕熱包裹的金容器中，使用設(shè)定的加熱功率小心地加熱幾度，可以實(shí)現(xiàn)非常精確的比熱計(jì)算。
比熱容測(cè)量模塊是為單試樣測(cè)試而設(shè)計(jì)的。
導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：
系統(tǒng) 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 1500, TPS 500 S 最高5 MJ/m3K
適用系統(tǒng)型號(hào)：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 S
測(cè)試有限體積的樣品
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1
單面模塊
雖然更準(zhǔn)確的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量是通過(guò)探頭夾在兩個(gè)樣品之間進(jìn)行的，但如果樣品量小，所有TPS儀器都可以進(jìn)行單面測(cè)試。這種類型的測(cè)試表現(xiàn)出與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試同樣出色的重復(fù)性，并使快速Q(mào)C測(cè)量或快速比較研究成為可能。單面測(cè)試的一個(gè)公認(rèn)的缺點(diǎn)是測(cè)試結(jié)果的精度略低，這是由于探頭周圍的熱流必須是不對(duì)稱的。除此之外，絕熱背景材料的使用可以準(zhǔn)確的測(cè)試高導(dǎo)熱樣品，而低導(dǎo)熱樣品(例如許多聚合物)只能得到蓄熱系數(shù)。單面測(cè)試不需要額外的設(shè)備，只需要使用任何絕熱材料來(lái)固定探頭即可。這是所有Hot Disk型號(hào)都提供的功能，并可以根據(jù)您的需求提供的絕熱背景材料。
導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：
系統(tǒng) 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.1-500 W/mK
TPS 1500 0.1-400 W/mK
TPS 500 S 0.1-200 W/mK
TPS 500 0.1-100 W/mK
*要達(dá)到最高精度，樣品至少需要1W/mK;然而，直到0.1W/mK都可以保持很好的重復(fù)性和蓄熱系數(shù)。
適用系統(tǒng)型號(hào)：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1
棒狀樣品的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 1500 TPS 500 (S)
一維測(cè)試模塊
當(dāng)測(cè)試高導(dǎo)熱材料時(shí)，如果樣品體積有限，一維方法是非常有用的。該模塊測(cè)試棒狀試樣沿軸向的導(dǎo)熱系數(shù)和熱擴(kuò)散系數(shù)。這里探頭的直徑應(yīng)該與樣品的直徑相匹配，這允許測(cè)量非常小的樣品，小到直徑1.5毫米和長(zhǎng)度4毫米。
一維測(cè)量模塊具有單面和雙面試樣測(cè)試的特點(diǎn)。
系統(tǒng) 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S 1-1800 W/mK
TPS 1500 1-400 W/mK
TPS 500 S 1-200 W/mK
適用系統(tǒng)型號(hào)：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS1500 TPS 500 S
低密度/高絕熱模塊
測(cè)試最輕且最絕熱的樣品
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500
低密度/高絕熱模塊
為了提高非常低導(dǎo)熱材料(如氣凝膠)的測(cè)試準(zhǔn)確性，這個(gè)模塊是必不可少的補(bǔ)充。這些材料的導(dǎo)熱系數(shù)如此之低，以至于通過(guò)探頭中間(在本例中是電纜)的熱損失變得非常顯著。利用該模塊可以精確地校正熱損失，使測(cè)量極低的導(dǎo)熱系數(shù)成為可能。
低密度/高絕熱測(cè)量模塊需要兩塊樣品進(jìn)行測(cè)試。
導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：
系統(tǒng) 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S,TPS 2200,TPS 1500 0.01-0.5 W/mK
適用系統(tǒng)型號(hào)：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500
識(shí)別樣品內(nèi)部的趨勢(shì)及缺陷
TPS 3500 TPS 2500 S
結(jié)構(gòu)探頭模塊
獨(dú)特的結(jié)構(gòu)探頭測(cè)量模塊使測(cè)量導(dǎo)熱系數(shù)隨探測(cè)深度的變化成為可能。該方法可用于非均勻性物質(zhì)的均勻性檢測(cè)、缺陷檢測(cè)或分析。為了精確測(cè)量，需要預(yù)先測(cè)量試樣的平均比熱容。
結(jié)構(gòu)探頭測(cè)量模塊具有單面和雙面試樣測(cè)試功能。
導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：
系統(tǒng) 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S 0.03-500 W/mK
適用系統(tǒng)型號(hào)：
TPS 3500 TPS 2500 S
TCP/IP協(xié)議遠(yuǎn)程控制
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1
自動(dòng)控制模塊
該模塊允許通過(guò)TPC/IP協(xié)議遠(yuǎn)程操作TPS儀器。當(dāng)使用儀器進(jìn)行在線或近線應(yīng)用時(shí)，如質(zhì)量控制，或當(dāng)操作員不能直接使用儀器時(shí)，這就是一個(gè)強(qiáng)大的工具。
適用系統(tǒng)型號(hào)：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1
上海市楊浦區(qū)長(zhǎng)陽(yáng)路1687號(hào)長(zhǎng)陽(yáng)創(chuàng)谷2號(hào)樓2層204-2室 021-58362581 ；58362582 vicky.yuan@k-analys.com 18964508748 ；18964505659
